Laser- und VCSEL-Lichtquellen schnell und hochauflösend charakterisieren

Hochauflösende Spektralradiometrie

Mit der Bereitstellung modernster Lichtmesstechnik ermöglicht Instrument Systems der opto-elektronischen Industrie innovative Produktentwicklungen. Dies gilt auch für Laserlichtquellen, die für wissenschaftliche und hochtechnologische Anwendungen – wie zum Beispiel autonomes Fahren – immer stärker an Bedeutung zunehmen. Speziell zur absoluten Charakterisierung von schmalbandigen Emissionsquellen hat Instrument Systems das hochauflösende Array-Spektralradiometer CAS 140CT-HR entwickelt. Es liefert Messergebnisse mit hoher spektraler Auflösung von bis zu 0,2 nm Halbwertsbreite bei gleichzeitig kurzer Messzeit bis minimal 9 ms. Vor allem bei der schnellen Prüfung von Laserdioden oder von Vertical-Cavity-Surface-Emitting-Lasern (VCSEL) bietet das CAS 140CT-HR entscheidende Vorteile gegenüber herkömmlichen Technologien. Dispersive, scannende oder Fourier-transformierte IR-Spektrometer (FTIR) besitzen bewegliche Bauteile, die empfindlich auf Produktionsvibrationen reagieren. Das CAS 140CT-HR enthält nur feste Bauteile und arbeitet daher besonders stabil und zuverlässig. Damit ist es für anspruchsvolle Aufgabenstellungen in Produktion und Labor ideal geeignet.

Displaymessungen individuell aufgesetzt

Für individuelle Displaymessungen lassen sich die Premium-Spektralradiometer als DTS-System aufsetzen. Die Strahlungseinkopplung erfolgt mit der Teleskopoptik TOP 200, die über einen Lichtleiter mit dem Spektrometer verbunden ist. Durch die flexible Faserankopplung lässt sich der Messadapter einfach wechseln und das System schnell für weitere Anwendungen (z.B. LED-Messung) konfigurieren. Das System misst u.a. Strahl- und Leuchtdichte sowie die Farbe von Displays und hinterleuchteten Symbolanzeigen. Bezüglich der Displaytechnologie, wie z.B. LCD, LED oder OLED, ist das DTS-System universell einsetzbar.

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