Luhmann, Thomas; Schumacher, Christina (Hrsg.)
Photogrammetrie – Laserscanning – Optische 3D-Messtechnik
Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2017
2017
X, 431 Seiten, Broschur
64,- €
ISBN 978-3-87907-625-3
– Alle Tagungsbeiträge der 16. Oldenburger 3D-Tage vom 1. bis 2. Februar 2017
– Enthält sowohl wissenschaftliche Beiträge aus aktueller Forschung als auch anwendungsorientierte Berichte und Produktinformationen
– Neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optischer 3D-Messtechnik
– Themenschwerpunkte:
• Dynamische Prozesse
• Aufnahme und Prozessierung von Laserscandaten
• Modellierung
• Anwendungen
• Sensoren und Plattformen
• Sensorik
• Kalibrierung und Messunsicherheit
• Industrielle Anwendungen
Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltet vom 01. bis 02.02.2017 die 16. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Fachleute aus den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik. Die Veranstaltung gilt mit ca. 230 Teilnehmern als eine der wichtigen Veranstaltungen in diesem Bereich. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind.
Prof. Dr.-Ing. habil. Thomas Luhmann ist Professor für Photogrammetrie und Fernerkundung an der Jade Hochschule in Oldenburg.
Dipl.-Ing. (FH) Christina Schumacher ist Technologietransferbeauftragte der Jade Hochschule in Oldenburg.
Zielgruppe: Praktiker, Wissenschaftler und Studierende in den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie, Geoinformatik und Geowissenschaften sowie aus dem Maschinen- und Anlagenbau, Automobilbau, Bauingenieurwesen, Architektur, Denkmalpflege, Stadtplanung, Archäologie, Forstwissenschaft, Medizin u. v. m.
Der von dem Ingenieur Dr. Kurt Slawik 1933 in Berlin gegründete Herbert Wichmann Verlag gilt mit seinen maßgeschneiderten Fachmedien über Geoinformatik/GIS, Geodäsie/Vermessung, Photogrammetrie/Fernerkundung und Verkehrsplanung als eine der ersten Adressen in diesem Bereich. Das Angebot umfasst Fachbücher und E-Books, Loseblattwerke, die Fachzeitschriften avn, GIS.BUSINESS und GIS.SCIENCE sowie das Portal gis.POINT. Seit 2010 befindet sich die Verlagsmarke unter dem Dach des VDE VERLAGs.
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